2026年5月14-16日，长芯展——2026杭州国际半导体与集成电路产业创新展览会将在杭州大会展中心隆重举行。

本届长芯展总规划面积3万平方米，覆盖半导体与集成电路全产业链，通过“1（展览展示）+N（多元活动）”联动模式，精心构建“2+8”立体化会议体系，全方位展示中国尤其是长三角地区半导体产业的创新实力与发展成果。

无论是想深入了解产业，还是想寻找合作机遇，在长芯展上，您都会得到满意的收获！后续我们将陆续推出优秀展商精选，介绍相关参展企业的概况和特色产品，敬请关注。

浙江杭可仪器有限公司(ATiS HangKe) ，总部位于中国杭州，是一家有着悠久历史传承和丰富技术沉淀的高端装备制造企业。公司专注半导体可靠性测试及特种电源领域，是专业的测试方案提供者、高效的测试系统服务者、领先的电子电源设备研制者。

自创设以来，公司始终紧贴客户需求，坚持独立研发，经过数十年的创新积累，现已拥有涵盖全系列电子元器件的老化筛选设备及测试系统，并承接多项国家重点工程配套任务，凭借优异的品质屡获某部嘉奖。

公司现有员工近300人，专业技术人员占比超过50%，专利储备70项，研发能力多次荣获省部级科技进步奖项。成熟的销售体系及卓越的售后团队能够快速响应客户需求，产品及服务触达全国，深受众多客户的长期肯定。

杭可仪器秉承“高质、高效、高速“的稳健发展策略，深耕半导体行业，坚持以质量立身、以技术驱动、以客户为中心，积极探索更新的技术、更优的产品和更好的服务。锐意进取的我们本着开放、合作、共好的商业理念，愿与行业内外的有识之士一道，为“追求科技进步、振兴民族产业”而奋斗不息。

晶圆级可靠性测试系统

(CWBS1000)：

该系统适用于6/8寸晶圆级器件的可控高温的带电可靠性测试，基于JEDEC可靠性测试标准设计；提供高精度高电压输出，保存并且长期记录高精度电流，可控温度等参数，并根据记录测试数据，导出实验表格及MAP图多格式选择。

超大规模集成电路老化测试系统

(LSIC9000)：

该系统可对芯片进行室温~+150°C的HTOL测试，老化过程中实时检测被测器件的输出信号，过程中自动对比向量。每块老化板可提供256路I/O双向通道，每个试验箱可支持最大38KW的热耗散，最大支持24个工位独立温控。

超大规模集成电路老化测试系统

(LSIC7000)：

该系统可对芯片进行室温~+150°C的HTOL测试，老化过程中实时检测被测器件的输出信号，过程中自动对比向量。

IGBT功率循环测试系统

(PC3000A)：

该系统适用于各种尺寸的IGBT模块的功率循环试验，且运用先进的JEDEC静态测试方法(JESD51-1)。 通过改变电子器件的输入功率，使得器件产生温度变化。变化过程中，通过测试芯片的瞬态温度响应曲线，并对测试波形进行数据处理，得到该电子器件的全面热特性。

高温动态反偏老化测试系统

（DHTRB2000)：

该系统针对SiC MOSFET进行动态反偏老化测试，测试方法参考AQG324。每个试验区域可进行最高12个工位的测试，工位具备独立脉冲源配置。可为器件提供室温~200°C的试验温度。具有试验器件短路脱离试验功能，可自动将故障器件脱离老化试验回路，不影响其他器件的正常试验。

IGBT功率模块测试系统

(PMRP2000)：

该系统适用于各种尺寸的IGBT功率模块的连续功率测试，基于实际应用环境搭建老化参数测试系统，进行电应力老化测试。模拟IGBT功率模块在整车使用中的工况进行长时间大电流的老化测试及马达堵转测试。老化过程中实时监测被测器件的峰值电流、平均值电流、输入电压、输出电压、温度等参数，并根据需要记录老化试验数据，导出试验报表。